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PCIe TX/RX 物理層信號(hào)完整性測(cè)試方法詳解
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PCIe TX/RX 物理層信號(hào)完整性測(cè)試方法詳解

2023-09-25
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PCIe 既有串行通信接口,又有存儲(chǔ)接口,這 一點(diǎn)與 SAS 和 SATA 不同,因此實(shí)現(xiàn)了額外 的行業(yè)擴(kuò)充能力。PCIe 在跟復(fù)合 ( 系統(tǒng) / 主機(jī) ) 與端點(diǎn) ( 插件 ) 之間基于點(diǎn)到點(diǎn)總線拓?fù)?,支持全雙工通信。這些規(guī)范是由 PCI-SIG 開(kāi)發(fā)和維護(hù)的,這是 一家由 900 多家公司組成的協(xié)會(huì)。


PCIe 物理層包括: 

● 差分低壓 100 MHz 基準(zhǔn)時(shí)鐘 

● 可 以 擴(kuò) 充 通 路 寬 度:x1, x2, x4, x8, x12, x16, x32 

● 可 以 擴(kuò) 充 速 度:2.5GT/s (Gen1), 5GT/s (Gen2), 8GT/s (Gen3), 16GT/s (Gen4) 

● 在一致性測(cè)試中使用不同的連接器,如 CEM、U.2 (SFF-8639)、M.2 或直接焊接到 PCB。


PCI Express— 它用在哪里?

PCIe 是數(shù)據(jù)中心和客戶端應(yīng)用中使用的主要的新興高性能存儲(chǔ)和串行總線。PCIe 在外設(shè)之間實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)通信。 數(shù)據(jù)中心應(yīng)用和客戶端應(yīng)用都有一個(gè)核心處理器, 為主機(jī)系統(tǒng)上的架構(gòu)提供原始處理能力。這兩種應(yīng)用還必須接口各種外設(shè)器件,如 SATA 驅(qū)動(dòng)器、 USB 設(shè)備等。在跟復(fù)合主機(jī)與端點(diǎn)器件之間,通常有許多路長(zhǎng)損耗通道和連接器,帶來(lái)了噪聲、串?dāng)_、 定時(shí)不規(guī)則特點(diǎn)和其他損傷。因此,客戶端和數(shù)據(jù)中心側(cè)的 PCIe 器件必須能夠可靠地演示 PCI 規(guī)定的一致性,補(bǔ)償損傷,與 PCIe 器件互操作。

PCIe Gen4 最新進(jìn)展

由于業(yè)界需要提高數(shù)據(jù)吞吐量和帶寬吞吐量,因此 PCIe 數(shù)據(jù)速率必須提高,以跟上需求發(fā)展步伐。所以 Gen4 中最大的變化之一,是數(shù)據(jù)速率提高了 2 倍,從 Gen3 的 8GT/s 提高到 Gen4 的 16GT/s。


下面列明了最新 Gen4 標(biāo)準(zhǔn)給市場(chǎng)帶來(lái)的主要增強(qiáng)功能。
● 對(duì)加壓的 Rx 眼圖參數(shù),RJ ( 隨機(jī)性抖動(dòng) ) 從 3 ps (PCIe3) 下降到 ~1 ps (PCIe4) 。
● Gen4 連接器向下兼容 Gen1/2/3 。
●限定通道:對(duì)更長(zhǎng)的通道和 / 或第二個(gè)連 接器,要求使用中繼器 ( 再驅(qū)動(dòng)器和再定 時(shí)器 ) 。
●在同一個(gè)器件上同時(shí)測(cè)試 Gen3 和 Gen4 時(shí),被測(cè)試的各個(gè)預(yù)置值數(shù)量將翻一倍, 總 計(jì) 22 個(gè)。Gen3 有 11 個(gè) 預(yù) 置 值 (P0 ~ P10),Gen4 有 11 個(gè)預(yù)置值 (P0 ~ P10)。
●新的 Rx 通路裕量功能測(cè)量通道最后的 眼高 (EH)/ 眼寬 (EW) 裕量 。
●Gen4 CEM 規(guī)范發(fā)布了 rev 0.5。

在傳統(tǒng)上,PCIe 一直采用公共時(shí)鐘結(jié)構(gòu),跟復(fù)合和芯片可以偏離相同的時(shí)鐘配置,而不是以不同的間隔運(yùn)行,后者測(cè)試起來(lái)更具有挑戰(zhàn)性。公共時(shí)鐘是 一種更加精確的結(jié)構(gòu),但整合到系統(tǒng)中的靈活性較差。通過(guò)采用 Gen4 標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)可望更多地采用分開(kāi) / 獨(dú)立的時(shí)鐘結(jié)構(gòu)。時(shí)鐘穩(wěn)定性必不可少,以支持三種不同的時(shí)鐘輸入結(jié)構(gòu)

PCI Express 外形

為了方便發(fā)射器件和接收器件可靠地傳輸數(shù)據(jù),PCI-SIG 對(duì)基準(zhǔn)時(shí)鐘提出了非常嚴(yán)格的要求。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定使用 100 MHz 時(shí)鐘 (Refclk),發(fā)射器件和接收器件上的頻率穩(wěn)定性大于 ±300 ppm,并支持三種不同的時(shí)鐘結(jié)構(gòu),同時(shí)協(xié)調(diào)根復(fù)合芯片和端點(diǎn)芯片。

一致性測(cè)試預(yù)置值

為通過(guò)一致性測(cè)試,實(shí)現(xiàn)互操作,每臺(tái)器件都要求進(jìn)行 PCI-SIG 認(rèn)證,它基于一個(gè)預(yù)置值或發(fā)射機(jī)均衡設(shè)置列表,從每秒 2.5 Gb/s 的低 數(shù)據(jù)速率直到最新的 16 Gb/s 的高數(shù)據(jù)速率。這些預(yù)置值用來(lái)均衡通道損耗,優(yōu)化鏈路上的信號(hào)完整性。每個(gè)預(yù)置值都是主機(jī)應(yīng)用到端 點(diǎn)的下沖和去加重的具體組合。


下表詳細(xì)列出了 Gen3 和 Gen4 的 11 種預(yù)置值。DUT 必須支持所有預(yù)置值。為降低測(cè)試時(shí)間,提高自動(dòng)化速度,建議使用 100MHz 時(shí)鐘突發(fā),作為一致性測(cè)試夾具的輸入,在這些預(yù)置值之間快速切換。如果您可以使用 100MHz 脈沖撥碼開(kāi)關(guān)自動(dòng)執(zhí)行預(yù)置測(cè)試,那么您可以節(jié)約寶貴的測(cè)試時(shí)間,因?yàn)槟梢宰詣?dòng)采集和分析各個(gè)指標(biāo),如抖動(dòng)、電壓和定時(shí)。

許多 PCI-SIG 測(cè)試早期實(shí)現(xiàn)者更愿意使用泰克 DPOJET 和 SDLA 軟件之類的工具,來(lái)完成早期 Gen4 表征和調(diào)試。



發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)
下面列明了對(duì) PCIe 發(fā)射機(jī)自動(dòng)進(jìn)行一致性測(cè)試的各個(gè)步驟。自動(dòng)軟件至關(guān)重要,因?yàn)樗梢允褂?100 MHz 基準(zhǔn)時(shí)鐘自動(dòng)切換預(yù)置測(cè)試模式,與手動(dòng)按鈕進(jìn)行撥碼切換相比,可以把測(cè)試時(shí)間縮短兩倍。
許多 PCI-SIG 測(cè)試早期實(shí)現(xiàn)者更愿意使用泰克 DPOJET 和 SDLA 軟件之類的工具,來(lái)完成早期 Gen4 表征和調(diào)試。

基本規(guī)范發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試

在芯片級(jí)可以通過(guò)多種方式完成這一測(cè)試:
1. 如果您深入了解類似的復(fù)制通道的 S 參數(shù),那么可以反嵌接續(xù)通道的損耗。您可以看到發(fā)射機(jī)引腳上的信號(hào)是什么樣的,而沒(méi)有增加通道影響。
2. 在示波器上使用均衡或 CTLE,均衡消除通道損耗。

3. 使用高帶寬探頭,探測(cè)位置應(yīng)盡可能靠近發(fā)射機(jī)引腳 。


示波器可以使用 SDLA、Seasim 和 SigTest 之類 的軟件工具,執(zhí)行嵌入 / 反嵌、均衡和眼圖分析。這種軟件級(jí)分析允許設(shè)計(jì)人員在試產(chǎn)前優(yōu)化和調(diào)試芯片性能,節(jié)約時(shí)間、資金及全面調(diào)試。確保采用的測(cè)量系統(tǒng)足夠靈活,能夠測(cè)試和調(diào)試被測(cè)器件的特定功能。


CEM 和 U.2 規(guī)范發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試

在芯片器件的基本發(fā)射機(jī)測(cè)試中,直接規(guī)定了發(fā)射機(jī)引腳上的測(cè)量項(xiàng)目。由于有時(shí)不可能接入引腳,因此應(yīng)在盡可能靠近這個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的位置執(zhí)行測(cè)量。

系統(tǒng)和插件在 CEM 級(jí)發(fā)射機(jī)測(cè)試中,會(huì)像接收機(jī)分片器看到的那樣測(cè)量發(fā)射機(jī)的信 號(hào)完整性,但由于外形及測(cè)試過(guò)程中使用的夾具,不可能直接接入信號(hào)。為保證測(cè)量精度,應(yīng)實(shí)現(xiàn)下面介紹了兩個(gè)重要組件。


1. 把一致性測(cè)試通道的性能特點(diǎn)向回嵌入到正在測(cè)量的信號(hào)中。這要求深入了解通道的插入損耗和 S 參數(shù)。由于這個(gè)原因,PCI-SIG 為 CEM 測(cè)試提供了一致性測(cè)試夾具及已知的 S 參數(shù)。

2. 使用軟件工具應(yīng)用通道均衡,測(cè)量和分析通道末端張開(kāi)的眼圖。PCISIG 提供了一個(gè)軟件工具,稱為 SIG-Test,應(yīng)用與 PCI-SIG 特性有關(guān)的行為均衡器,提供測(cè)試通過(guò) / 未通過(guò)結(jié)果。定制示波器軟件,如泰克 DPOJET 和 SDLA,可以從閉上的眼圖到張開(kāi)的眼圖,全面表征和調(diào)試均衡的信號(hào)。


接收機(jī) (Rx) 測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)


PCIe 測(cè)試和調(diào)試設(shè)置中的關(guān)鍵考慮因素

由于 Gen 4 標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn),PCIe 的速度和復(fù)雜度正不斷提高,工程師面臨著新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)、更短的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期,同時(shí)需要了解新的標(biāo)準(zhǔn) 規(guī)范及新的一致性測(cè)試要求。

在您處理 Gen3 或 Gen4 PCIe 器件測(cè)試和調(diào)試前,要問(wèn)以下幾個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題:







PCIe TX/RX 物理層信號(hào)完整性測(cè)試方法詳解
2023-09-25

PCIe 既有串行通信接口,又有存儲(chǔ)接口,這 一點(diǎn)與 SAS 和 SATA 不同,因此實(shí)現(xiàn)了額外 的行業(yè)擴(kuò)充能力。PCIe 在跟復(fù)合 ( 系統(tǒng) / 主機(jī) ) 與端點(diǎn) ( 插件 ) 之間基于點(diǎn)到點(diǎn)總線拓?fù)?,支持全雙工通信。這些規(guī)范是由 PCI-SIG 開(kāi)發(fā)和維護(hù)的,這是 一家由 900 多家公司組成的協(xié)會(huì)。


PCIe 物理層包括: 

● 差分低壓 100 MHz 基準(zhǔn)時(shí)鐘 

● 可 以 擴(kuò) 充 通 路 寬 度:x1, x2, x4, x8, x12, x16, x32 

● 可 以 擴(kuò) 充 速 度:2.5GT/s (Gen1), 5GT/s (Gen2), 8GT/s (Gen3), 16GT/s (Gen4) 

● 在一致性測(cè)試中使用不同的連接器,如 CEM、U.2 (SFF-8639)、M.2 或直接焊接到 PCB。


PCI Express— 它用在哪里?

PCIe 是數(shù)據(jù)中心和客戶端應(yīng)用中使用的主要的新興高性能存儲(chǔ)和串行總線。PCIe 在外設(shè)之間實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)通信。 數(shù)據(jù)中心應(yīng)用和客戶端應(yīng)用都有一個(gè)核心處理器, 為主機(jī)系統(tǒng)上的架構(gòu)提供原始處理能力。這兩種應(yīng)用還必須接口各種外設(shè)器件,如 SATA 驅(qū)動(dòng)器、 USB 設(shè)備等。在跟復(fù)合主機(jī)與端點(diǎn)器件之間,通常有許多路長(zhǎng)損耗通道和連接器,帶來(lái)了噪聲、串?dāng)_、 定時(shí)不規(guī)則特點(diǎn)和其他損傷。因此,客戶端和數(shù)據(jù)中心側(cè)的 PCIe 器件必須能夠可靠地演示 PCI 規(guī)定的一致性,補(bǔ)償損傷,與 PCIe 器件互操作。

PCIe Gen4 最新進(jìn)展

由于業(yè)界需要提高數(shù)據(jù)吞吐量和帶寬吞吐量,因此 PCIe 數(shù)據(jù)速率必須提高,以跟上需求發(fā)展步伐。所以 Gen4 中最大的變化之一,是數(shù)據(jù)速率提高了 2 倍,從 Gen3 的 8GT/s 提高到 Gen4 的 16GT/s。


下面列明了最新 Gen4 標(biāo)準(zhǔn)給市場(chǎng)帶來(lái)的主要增強(qiáng)功能。
● 對(duì)加壓的 Rx 眼圖參數(shù),RJ ( 隨機(jī)性抖動(dòng) ) 從 3 ps (PCIe3) 下降到 ~1 ps (PCIe4) 。
● Gen4 連接器向下兼容 Gen1/2/3 。
●限定通道:對(duì)更長(zhǎng)的通道和 / 或第二個(gè)連 接器,要求使用中繼器 ( 再驅(qū)動(dòng)器和再定 時(shí)器 ) 。
●在同一個(gè)器件上同時(shí)測(cè)試 Gen3 和 Gen4 時(shí),被測(cè)試的各個(gè)預(yù)置值數(shù)量將翻一倍, 總 計(jì) 22 個(gè)。Gen3 有 11 個(gè) 預(yù) 置 值 (P0 ~ P10),Gen4 有 11 個(gè)預(yù)置值 (P0 ~ P10)。
●新的 Rx 通路裕量功能測(cè)量通道最后的 眼高 (EH)/ 眼寬 (EW) 裕量 。
●Gen4 CEM 規(guī)范發(fā)布了 rev 0.5。

在傳統(tǒng)上,PCIe 一直采用公共時(shí)鐘結(jié)構(gòu),跟復(fù)合和芯片可以偏離相同的時(shí)鐘配置,而不是以不同的間隔運(yùn)行,后者測(cè)試起來(lái)更具有挑戰(zhàn)性。公共時(shí)鐘是 一種更加精確的結(jié)構(gòu),但整合到系統(tǒng)中的靈活性較差。通過(guò)采用 Gen4 標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)可望更多地采用分開(kāi) / 獨(dú)立的時(shí)鐘結(jié)構(gòu)。時(shí)鐘穩(wěn)定性必不可少,以支持三種不同的時(shí)鐘輸入結(jié)構(gòu)

PCI Express 外形

為了方便發(fā)射器件和接收器件可靠地傳輸數(shù)據(jù),PCI-SIG 對(duì)基準(zhǔn)時(shí)鐘提出了非常嚴(yán)格的要求。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定使用 100 MHz 時(shí)鐘 (Refclk),發(fā)射器件和接收器件上的頻率穩(wěn)定性大于 ±300 ppm,并支持三種不同的時(shí)鐘結(jié)構(gòu),同時(shí)協(xié)調(diào)根復(fù)合芯片和端點(diǎn)芯片。

一致性測(cè)試預(yù)置值

為通過(guò)一致性測(cè)試,實(shí)現(xiàn)互操作,每臺(tái)器件都要求進(jìn)行 PCI-SIG 認(rèn)證,它基于一個(gè)預(yù)置值或發(fā)射機(jī)均衡設(shè)置列表,從每秒 2.5 Gb/s 的低 數(shù)據(jù)速率直到最新的 16 Gb/s 的高數(shù)據(jù)速率。這些預(yù)置值用來(lái)均衡通道損耗,優(yōu)化鏈路上的信號(hào)完整性。每個(gè)預(yù)置值都是主機(jī)應(yīng)用到端 點(diǎn)的下沖和去加重的具體組合。


下表詳細(xì)列出了 Gen3 和 Gen4 的 11 種預(yù)置值。DUT 必須支持所有預(yù)置值。為降低測(cè)試時(shí)間,提高自動(dòng)化速度,建議使用 100MHz 時(shí)鐘突發(fā),作為一致性測(cè)試夾具的輸入,在這些預(yù)置值之間快速切換。如果您可以使用 100MHz 脈沖撥碼開(kāi)關(guān)自動(dòng)執(zhí)行預(yù)置測(cè)試,那么您可以節(jié)約寶貴的測(cè)試時(shí)間,因?yàn)槟梢宰詣?dòng)采集和分析各個(gè)指標(biāo),如抖動(dòng)、電壓和定時(shí)。

許多 PCI-SIG 測(cè)試早期實(shí)現(xiàn)者更愿意使用泰克 DPOJET 和 SDLA 軟件之類的工具,來(lái)完成早期 Gen4 表征和調(diào)試。



發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)
下面列明了對(duì) PCIe 發(fā)射機(jī)自動(dòng)進(jìn)行一致性測(cè)試的各個(gè)步驟。自動(dòng)軟件至關(guān)重要,因?yàn)樗梢允褂?100 MHz 基準(zhǔn)時(shí)鐘自動(dòng)切換預(yù)置測(cè)試模式,與手動(dòng)按鈕進(jìn)行撥碼切換相比,可以把測(cè)試時(shí)間縮短兩倍。
許多 PCI-SIG 測(cè)試早期實(shí)現(xiàn)者更愿意使用泰克 DPOJET 和 SDLA 軟件之類的工具,來(lái)完成早期 Gen4 表征和調(diào)試。

基本規(guī)范發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試

在芯片級(jí)可以通過(guò)多種方式完成這一測(cè)試:
1. 如果您深入了解類似的復(fù)制通道的 S 參數(shù),那么可以反嵌接續(xù)通道的損耗。您可以看到發(fā)射機(jī)引腳上的信號(hào)是什么樣的,而沒(méi)有增加通道影響。
2. 在示波器上使用均衡或 CTLE,均衡消除通道損耗。

3. 使用高帶寬探頭,探測(cè)位置應(yīng)盡可能靠近發(fā)射機(jī)引腳 。


示波器可以使用 SDLA、Seasim 和 SigTest 之類 的軟件工具,執(zhí)行嵌入 / 反嵌、均衡和眼圖分析。這種軟件級(jí)分析允許設(shè)計(jì)人員在試產(chǎn)前優(yōu)化和調(diào)試芯片性能,節(jié)約時(shí)間、資金及全面調(diào)試。確保采用的測(cè)量系統(tǒng)足夠靈活,能夠測(cè)試和調(diào)試被測(cè)器件的特定功能。


CEM 和 U.2 規(guī)范發(fā)射機(jī) (Tx) 測(cè)試

在芯片器件的基本發(fā)射機(jī)測(cè)試中,直接規(guī)定了發(fā)射機(jī)引腳上的測(cè)量項(xiàng)目。由于有時(shí)不可能接入引腳,因此應(yīng)在盡可能靠近這個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的位置執(zhí)行測(cè)量。

系統(tǒng)和插件在 CEM 級(jí)發(fā)射機(jī)測(cè)試中,會(huì)像接收機(jī)分片器看到的那樣測(cè)量發(fā)射機(jī)的信 號(hào)完整性,但由于外形及測(cè)試過(guò)程中使用的夾具,不可能直接接入信號(hào)。為保證測(cè)量精度,應(yīng)實(shí)現(xiàn)下面介紹了兩個(gè)重要組件。


1. 把一致性測(cè)試通道的性能特點(diǎn)向回嵌入到正在測(cè)量的信號(hào)中。這要求深入了解通道的插入損耗和 S 參數(shù)。由于這個(gè)原因,PCI-SIG 為 CEM 測(cè)試提供了一致性測(cè)試夾具及已知的 S 參數(shù)。

2. 使用軟件工具應(yīng)用通道均衡,測(cè)量和分析通道末端張開(kāi)的眼圖。PCISIG 提供了一個(gè)軟件工具,稱為 SIG-Test,應(yīng)用與 PCI-SIG 特性有關(guān)的行為均衡器,提供測(cè)試通過(guò) / 未通過(guò)結(jié)果。定制示波器軟件,如泰克 DPOJET 和 SDLA,可以從閉上的眼圖到張開(kāi)的眼圖,全面表征和調(diào)試均衡的信號(hào)。


接收機(jī) (Rx) 測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)


PCIe 測(cè)試和調(diào)試設(shè)置中的關(guān)鍵考慮因素

由于 Gen 4 標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn),PCIe 的速度和復(fù)雜度正不斷提高,工程師面臨著新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)、更短的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期,同時(shí)需要了解新的標(biāo)準(zhǔn) 規(guī)范及新的一致性測(cè)試要求。

在您處理 Gen3 或 Gen4 PCIe 器件測(cè)試和調(diào)試前,要問(wèn)以下幾個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題:







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